设备简介

X射线吸收谱技术是研究复杂组分体系中特定元素近邻配位结构和电子结构的重要手段，广泛应用于能源材料、化学、物理学等领域。利用该台式 X 射线吸收谱，在常规实验室可实现了X射线吸收精细结构测量和分析，为材料分析检测提供技术支持。

主要功能

• 获取元素近邻局域结构信息，如配位元素的种类、价态、键长、配位数。

• 可集成辅助设备，实现原位表征，如高温、低温、高压、气氛等原位条件。

应用领域

• 可广泛应用于能源催化、物理、生物、材料、化学、环境、放射性核素等诸多领域

• 适用于多种材料结构体系：钙钛矿、尖晶石、MOF、MXene等材料

• 可满足 3d 金属 K 边、部分 4d 金属 K 边 / L 边、5d 金属 L 边 / M 边、镧系金属 L 边、部分锕系金属 M 边及其他吸收边在 2 ~ 20 keV 范围内的元素

典型服务案例

台式 X 射线吸收谱监测 U M₅ edge 确定 UCoO₄ 催化剂 OER 反应前后 U 价态变化，文章发表在 J. Am. Chem. Soc. 2021, 144, 416-423.。